Dynamiczne proste ścinanie

Urządzenie Dynamiczne Proste Ścinanie (Dynamic/Cyckle Simple Shear Test System (DSSS) został zaprojektowany w celu wykonywania cyklicznego prostego ścinania gruntów charakteryzujących się dynamicznymi zmianami właściwości. Umożliwia bezpośrednie badanie ścinania vs. siła/naprężenie w warunkach odwodnionych i nieodwodnionych. System składa się z dynamicznego aparatu prostego ścinania (z odpowiednimi czujnikami) połączonego z szybkim sterownikiem ruchów cyklicznych oraz automatycznych kontrolerów ciśnienia dla ciśnienia wstecznego. Cały system sterowany jest poprzez PC z odpowiednim oprogramowaniem Clisp Studio umożliwiającym konfigurowanie i sterowanie testem oraz rejestrowanie i analizę danych.

Parametry systemu:

• aparat dynamicznego (cyklicznego) prostego ścinania
• dynamicnzy servosterownik (dwuosiowy)
• automatyczny kontroler ciśnienia (3000 kPa)
• czujniki (siła pionowa 5 kN, siła pozioma 5 kN, przemieszczenie 25 mm, ciśnienie wody porowej 10 bar)

Właściwości:

• połączenie z PC poprzez Ethernet
• siłownik siły poziomej (servomotor z ogranicznikami przesuwu)
• siłownik siły pionowej (servomotor z ogranicznikami przesuwu)
• sterowanie osiami oraz siłą/naprężeniem ścinającym
• precyzyjny pomiar przemieszczenia poprzez enkoder dla przemieszczenia osiowego/sił ścinających
• dodatkowy czujnik dla aktywnej kontroli wysokości
• umożliwia wykonywanie następujących testów:
• test prostego ścinania z utrzymywaną stałą wysokością dzięki funkcji aktywnej kontroli wysokości
• test cyklicznego ścinania z cykliczną siłą poziomą zadawaną na próbkę i z utrzymywaną stałą siłą pionową
• test cyklicznego ścinania z cykliczną siłą poziomą zadawaną na próbkę i z utrzymywaną stałą wysokością
•  test cyklicznego ścinania z cykliczną przemieszczeniem poziomym zadawanym na próbkę i z utrzymywaną stałą siłą pionową
•  test cyklicznego ścinania z cykliczną przemieszczeniem poziomym zadawanym na próbkę i z utrzymywaną stałą wysokością

• wymiary próbki 70 mm średnica x 70 mm wysokość (opcjonalnie dostępne 50 mm)
• pionowa częstotliwość 0.01 Hz do 5.00 Hz (rozdzielczość 0.01 Hz) (opcjonalnie dostępne 10 Hz)
• pionowe obciążenie - 5 kN do + 5 kN (rozdzielczość 1 N) (opconalnie +/- 10 kN)
• pionowe przemieszczenie 0.001 do 25.000 mm (rozdzielczość 0.001 mm)
• pozioma częstotliwość 0.01 Hz do 5.00 Hz (rozdzielczość 0.01 Hz) (opcjonalnie dostępne 10 Hz)
• poziome obciążenie - 5 kN do + 5 kN (rozdzielczość 1 N) (opconalnie +/- 10 kN)
• poziome przemieszczenie 0.001 do 15.000 mm (rozdzielczość 0.001 mm)
• tempo próbkowania danych 1000 pkt/sek
• kształt fali sinus, kwadrat, trójkąt, haversine, piłokształtna, definiowany przez użytkownika